產品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
Lumina光學表面缺陷分析儀
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
產品簡介
AF2 自動對焦(Autofocus)借由探測器的回饋訊號調整物鏡位置，得到待測物焦點，而獲得待測物的確實高度(如下左圖)。CF4 共軛焦(Confocal, Laser)激光光束經由物鏡迅速上下移動聚焦于待測物上，此時偵測器能經由孔洞得到Z大光的強度，如此偵測器根據(jù)此訊號確定其位置
AF2 自動對焦（Autofocus）
借由探測器的回饋訊號調整物鏡位置，得到待測物焦點，而獲得待測物的確實高度（如下左圖）。
CF4 共軛焦（Confocal, Laser）
激光光束經由物鏡迅速上下移動聚焦于待測物上，此時偵測器能經由孔洞得到zui大光的強度，如此偵測器根據(jù)此訊號確定其位置（如下右圖）。
AF2
CF4
n 應用
ü 集成電路封裝和表面貼片技術
ü 厚膜混合電路:膜厚度的自動化測量
ü 精密部件
[1] BGA [2] thick film [3] dispenser dots [4] laminate
n 技術參數(shù)
| Scan modules | Measuring range in x,y-direction [mm] | Resolution in x,y-direction [mm] | Positioning range in z-direction [mm] | Max. measuring speed [mm/s] |
| SC 50 | 50X50 | 0.5 | 100 | 50 |
| SC 100 | 100x100 | 0.5 | 100 | 50 |
| SC 150 | 150x150 | 0.5 | 100 | 50 |
| SC 200 | 200x200 | 0.5 | 100 | 50 |
| other dimensions on request | ||||
| Sensors | Resolution z [μm] | Resolution x,y [μm] | Working distance [mm] | Measuring range in z-direction [mm] | Camera （optional） | |
| Confocal point sensor | CF 4 | 0.02 | 1 | 4 | 1.0 | off-axis |
| | CF 13 | 0.02 | 1 | 13 | 1.0 | （BMT5） |
| Autofocus sensor | AF 2 | 0.025/0.0111） | 1 | 2 | 1.5/0.651） | integrated |
| AF 5 | 0.025/0.0111） | 1 | 5 | 1.5/0.651） | （BMT3） | |
| Chromatic white light sensor | CRT 52） | 0.010 | 4 | 5 | 0.3 | off-axis （BMT5） |
| CRT 122） | 0.025 | 4 | 12 | 1.0 | ||
| CRT 162） | 0.075 | 8 | 16 | 3.0 | ||
| Holographic sensor | CP 15 | 3.0 | 12 | 12 | 1.8 | integrated （BMT 4） |
| CP 42 | 6.0 | 15 | 42 | 8.0 | ||
| CP 65 | 10.0 | 25 | 65 | 18.0 | ||
| 1） with restricted measuring range 2） with 1, 4 or 30 kHz measuring frequency available | ||||||
| Modules | |
| System controller | High performance industrial PC, DVD-Writer, network card, Windows XP Professional |
| Cabinet and work table MT 70 | Stable container for electronic modules with work table 1550x800x750 （lxh in mm） |
| Granite measuring stand MP 100 | Portal construction, 660x450x497 （lxh in mm） for SC 50 to SC 150 |
| Granite measuring stand MP 200 | Portal construction, 680x480x385 （lxh in mm） from SC 200 |
| NF μsoft standard software | NanoFocus control and evaluation software, profile and topography representation, roughness calculation compliant with DIN EN ISO |
| Options | |
| NF 3D-Plus | Photo-realistic 3D presentation of topographical data （OpenGL） |
| NF Active X | Interface modules to program individual measurement processes and calculations （Excel/VBA） |
| NF Hybridmaster | Automation tool for the use of μscan® in thick film production incl. SPC and teach in module |
| NF Flatmaster | Automated measurement of straightness, flatness and warpage |
| NF Solder | Automated off-line measurement of fine pitch solderpaste print in SMT production |
| NF AutoScan | Automated measurement of profiles and surfaces at arbitrary measurement points |
：
：admin@shnti.com
當前位置：
上一個：
返回列表
